統合計測研討會「測試進入『連結』時代：統合計測 × 自動化 × 模擬協作的最前線」將於六月在東京・愛知(刈谷)舉辦
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AI 摘要（NQ 加工版）
東陽科技為應對移動開發日益複雜化和測試工時增加的問題，將與日本國家儀器等四家公司合作，於六月在東京和愛知舉辦統合計測研討會。研討會將介紹無需FPGA編譯的HILS和AI應用技術等，旨在透過統合計測、自動化和模擬協作來縮短開發週期並減輕測試工程師的負擔。