東京威力科創元件與 ITES 合作，共同開發能在晶圓層級將 SiC 元件潛在缺陷視覺化的檢測解決方案

AI 摘要（NQ 加工版）

東京威力科創元件 (TED) 與電子零件分析公司 ITES 宣布合作，共同開發針對 SiC（碳化矽）元件的潛在缺陷檢測解決方案。兩家公司將透過開發銷售新型「SiC 潛在缺陷檢測裝置 ITS-SCX100」，利用 UV 雷射照射技術將晶圓內的潛在結晶缺陷視覺化，旨在縮短開發週期並提升功率元件的可靠性。此合作將結合 TED 的設備開發能力與 ITES 的分析技術，為客戶提供從缺陷可視化到評估分析的一站式支援。