基於深度先驗分佈的網格去除技術 大幅提升軟X射線角度分辨光電子能譜效率
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AI 摘要（NQ 加工版）
高輝度光科學研究中心(JASRI)與合作單位透過整合自主開發的「基於深度先驗分佈的網格去除方法(DPDM)」，大幅提升了軟X射線角度分辨光電子能譜(SX-ARPES)測量的效率，測量時間縮短90%以上且不損害能量解析度，使超高解析度測量變得實用。