清大發現光絲化機制 埃秒脈衝助半導體材料檢測
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AI 摘要（NQ 加工版）
國立清華大學電機工程學系研究團隊成功利用「光絲化」機制，產生高品質的孤立埃秒脈衝，可應用於半導體先進製程中的材料檢測。這項技術能自然壓縮雷射光，如同超高速閃光燈般捕捉電子運動，對於半導體產業的品質控制具有重要意義。