（產總研集團/免費研討會）「計量標準綜合中心 開放日」計量標準連結的產業應用 系列第三彈 測量與視覺化奈米世界：透過測量技術開拓材料評估與產業應用的未來【4/13・16播出】

常見問題

Q: 本次線上研討會的系列主題為何？主要探討哪些測量技術？

A: 本次線上研討會是「計量標準綜合中心 開放日」系列活動的第三彈，主要探討將奈米尺度世界視覺化的最新測量技術，涵蓋薄膜熱擴散率、多角度SEM觀察、粒徑動態測量、同步輻射X光原位分析，以及正電子空位測量等。

Q: 「計量標準綜合中心 開放日」活動的目的是什麼？與往年有何不同？

A: 「計量標準綜合中心 開放日」的前身為「NMIJ成果發表會」，旨在向社會大眾發布NMIJ一年來的研究成果，並分享促進產業界及研究機構合作的測量技術。今年起更名並擴大舉辦，提供更多親近計量標準與測量技術的機會。

Q: 本次線上研討會的播出日期與時間為何？內容是否相同？

A: 本次線上研討會將於2026年4月13日（星期一）10:00～11:30，以及2026年4月16日（星期四）15:00～16:30播出。兩天的播出內容將完全相同，方便觀眾選擇適合的時間觀看。

Q: 哪些產業人士或研究者適合參加本次線上研討會？

A: 本次研討會推薦給欲評估薄膜材料熱物性、半導體元件熱設計、提升SEM觀察技巧、對粒子測量視覺化感興趣、評估電池或奈米材料、以及進行材料孔隙評估以提升功能性或抑制劣化的人士。

Q: 本次「計量標準綜合中心 開放日」線上研討會的參加費用為何？觀看方式為何？

A: 本次「計量標準綜合中心 開放日」線上研討會的參加費用為免費。觀眾可透過瀏覽器線上觀看，無需額外安裝軟體。