高屋株式会社（总部：冈山县井原市井原町661-1 代表取缔役社长：冈本 龙二）将于2026年5月13日（三）～15日（五）在INTEX OSAKA举办的第二届［关西］NEPCON JAPAN -电子开发・实装展- 中，以产业设备事业部及EMS事业部的联合参展形式参加。 NEPCON JAPAN是亚洲最大规模的电子开发・实装展。展览会将展出支持电子设备多功能化、高性能化的世界最尖端电子零件、材料，以及制造、组装、检测设备。为引进、比较、探讨最新技术，将有来自电子、半导体・传感器、电子零件、汽车・电子零件、航空・宇宙等领域的制造商前来参观。 在本公司摊位，我们将展出飞针测试机的新标准机型APT-T400J（关西地区首次展出）以及高端机型APT-2600FD。 此次，作为产业设备事业部与EMS事业部的联合参展，我们将采用一种展示结构，能够直接介绍实际引进飞针测试机并正在现场运行的应用案例及现场声音。您可以在现场咨询引进时常有的不安与疑虑、引进后显现的运行课题，以及引进后可获得的具体效益。 此外，我们将首次发表与集团公司「高屋电子工业株式会社」的新产品「回载机（Return Loader）」，并与APT-T400J联动进行展示。从检测工序到其前后工序，您将能体验到符合实际运用的解决方案。 您将能与具体的运行案例一同确认，在设备引进时容易面临的课题及其解决的线索。正在考虑引进飞针测试机或优化生产体系的各位，请务必莅临高屋株式会社的摊位。 展出产品（飞针测试机）介绍 ◆ APT-T400J APT-T400J 作为一款无需夹具即可对应多样化基板的飞针测试机，继承了高屋株式会社多年积累的高精度探针技术与稳定的测量性能，是一款标准机型。 在保持以往机型可靠性的同时，实现了更易于导入的价格区间，可在初期投资较少的同时实现高品质的基板电气检测。 【独特的4头・6飞针配置】 通过4根倾斜探针＋2根垂直探针，提高了对高密度零件间及向上连接器的可及性。 【高精度探针控制】 通过19段阶的下降速度控制，实现符合基板状态的最佳接触。 【支持无夹具的分割式夹持机构】 对应特殊形状的基板，缩短设置时间。 【标准搭载IC开路测试系统】 侦测IC内部的微小信号，检测引脚浮动及BGA未接合不良。 APT-T400J 概要 APT-T400J - 全新标准机型诞生 | 高屋株式会社 产业设备事业部网站 APT-T400J 型录下载 型录下载表格 | 高屋株式会社 产业设备事业部网站 ◆ APT-2600FD APT-2600FD 是一款双面飞针测试机，同时使用上下飞针进行探测，实现最多6探针的组合检测。 无需翻转基板即可进行双面接触，同时提高了测试覆盖率并降低了产品损坏风险。此外，通过多点同时检测，可大幅缩短检测时间。 具备高功能测量系统及多样化检测选项，是能对应日益复杂、高密度化基板检测的高端机型。 【独特的6头・10飞针配置】 顶部配备4个头部与6根飞针，底部配备2个头部与4根飞针。 可实现双面同时接触，搭载高功能测量系统，为从试作到量产的品质提升做出贡献。 【ZERO IMPACT 探针控制】 在探针接触基板的瞬间，将动作速度降至零，最大限度减少对基板及零件的损坏。