タカノ株式会社(总部:长野县上伊那郡宫田村,代表取缔役社长:鹰野 雅央)将参加于2026年6月10日(周三)至12日(周五)在东京国际展示场(Tokyo Big Sight)举办的「JPCA Show 2026」。 本次展出将以ALTAX(全面高度检测设备)为内核,展出用于封装基板、玻璃基板及晶圆制造制程的检测设备。 特别是针对备受瞩目的玻璃芯基板及光电融合等下一代技术,公司提供了相应的检测设备阵容,以满足客户广泛的需求。 「JPCA Show 2026」展会概要 日期:2026年6月10日(周三)至12日(周五) 时间:10:00~17:00(最后一日至16:00止) 地点:东京国际展示场 东展示栋 主办单位:RX Japan株式会社 摊位号码:3F-42 官方网站:https://www.jpcashow.com/show2026/ 参观者预先登记:https://f-vr.jp/jpca/jpca2026/ 展出产品信息: 1. 2D/3D外观检测设备 ALTAX-FS【面板展示】 适用于玻璃、晶圆、PKG基板等,可进行全面性检测。 2. 晶圆专用全面高度检测设备 ALTAX-300EX【面板展示】 支持微凸块(micro-bump)的先进最新机型。 其他产品: ・晶圆外观检测设备(Vi系列):高精度检测配线图案、裂纹及异物污染等。 ・晶圆表面检测设备(WM+系列):支持纳米级颗粒(异物)检测的最新机型。 ・全面膜厚不均检测设备(Thinspector):通过单次扫描即可实现全面检测。 ・薄膜外观检测设备(Hawkeyes系列)