高野株式会社（总公司：长野县上伊那郡宫田村，代表董事社长：鹰野 雅央）将于2026年5月13日（周三）至15日（周五）在大阪国际展览中心举行的「高功能材料周 大阪2026」中的「第14届大阪薄膜科技日本展」中参展。 在生成式AI和5G/6G的背景下，高功能薄膜和半导体市场预计将持续活跃并面临更高的品质要求。高野公司将抓住这一需求，进一步加强在电子材料、光学薄膜和能源等领域的销售推广。 本次展会将广泛展出超高速无地薄膜检测系统（展示机）、即时AI自动缺陷分类系统以及晶圆表面检测设备等。高野检测机的特色将在展位上让您「看、触摸、体验」，欢迎莅临参观。 展位形象 「第14届大阪薄膜科技日本展」活动概要 * 举办日期：2026年5月13日（周三）～15日（周五） * 举办时间：10:00～17:00 * 举办地点：大阪国际展览中心 * 主办单位：RX Japan株式会社 * 展位号码：K13-52 官方网站：https://www.material-expo.jp/osaka/ja-jp/visit/film.html 预先注册可免费入场，请通过参观者预先注册网站申请。 ▽展会邀请函申请（免费）网站请点击此处 https://www.material-expo.jp/osaka/ja-jp/register.html 重点展出产品 【薄膜外观检测设备Hawkeyes系列】 Hawkeyes系列通过采用自主研发的相机、图像处理单元和检测算法，实现了高功能薄膜市场（光学、电子材料、电池材料）的高速高精度检测。 1. 超高速无地薄膜检测系统 Hawkeyes one【面板展示】 超高速无地薄膜检测系统 Hawkeyes one 通过采用自主研发的高性能相机和新开发的图像处理单元，实现了业界最快等级（根据本公司调查）的检测速度。可在高速生产在线设置高分辨率以检测微小缺陷。此外，还可以并行处理多个任务，进行多样化的缺陷检测。 URL：https://www.takano-kensa.com/kensa/products/hawkeyesone/ 2. 无地薄膜检测系统 Hawkeyes ELITE【面板展示】 无地薄膜检测系统 Hawkeyes ELITE 采用自主研发的高性能相机，支持高速生产线且具有优异的客制化能力，不仅能检测多样化的缺陷，还能应对各种形状的产品。 URL： https://www.takano-kensa.com/kensa/products/hawkeyeselite/ 3. 图案薄膜检测系统 Hawkeyes PATTERN【面板展示】 图案薄膜检测系统 Hawkeyes PATTERN 通过针对工件选择合适的光学系统，可以检测复杂布线图案、金属网格图案、电池电极等各种材质形状的工件。此外，还会根据图案形状和目标缺陷选择合适的图像处理，以检测缺陷。 URL：https://www.takano-kensa.com/kensa/products/hawkeyespattern/ 4. 即时AI自动缺陷分类系统 TAKANO AI【面板展示】 即时AI自动缺陷分类系统 TAKANO AI 将AI驱动的即时缺陷分类功能带到您身边。只需分配图像，而非传统的基于特征的参数输入，即可实现即时缺陷分类，操作简单。 URL：https://www.takano-kensa.com/kensa/column/ai-defect-classification-system/ 5. 晶圆表面检测设备 WM系列 【面板展示】 WM系列：WM-7SR+WM系列：WM-10R+ 能够对无图案晶圆进行高灵敏度的颗粒检测。光源采用半导体雷射，可降低运行成本。可用于晶圆检测、制程控制、研究开发等。 URL：https://www.takano-kensa.com/kensa/products/backend-inspection/wm/ 6. 晶圆外观检测设备（Vi