随着卫星通信与防卫系统持续扩大，RF 测试变得越来越重要且复杂。罗德史瓦兹将于 2026 年 5 月 20 日举办第 2 届 RF Testing Innovations Forum 在线活动，由工程师与专家介绍因应当前高端应用的实务解决方案。 RF Testing Innovations Forum 2026 将邀请罗德史瓦兹、Dassault Systèmes、FormFactor、Focus Microwaves 的专家，针对当前 RF 测试面临的课题进行演讲。议程涵盖多项主题，包括主动组件特性评估所需的残余量测，以及跨不同频率的绝对相位验证。 罗德史瓦兹 RF 与微波组件市场区隔经理 Markus Loerner 将以「航太与防卫专用组件的商业化」为题发表主题演讲。他将说明卫星通信与防卫应用扩张如何推升 RF 系统需求，并带动高性能 RF 组件需求成长。演讲也将比较相关 RF 子系统并推导测试需求，目标是缩短上市时程并提升效率。 另一场讲座将聚焦绝对相位量测与校正的重要性。许多设计工程师容易忽略宽带率范围内绝对相位量测的重要性。本场次将介绍相位校正方法，聚焦梳状波产生器及其可追溯性，并说明时间域转换、频率转换器验证，以及矢量网络分析仪（VNA）相关考量等应用案例。 针对次 THz 频段的晶圆上量测，随着多 Gb 通信系统迈向更高频段，工程师必须扩展晶圆上 S 参数量测极限，以进行精准的组件建模与特性评估。来自德国德勒斯登 FormFactor 实验室的现场示范，将使用 R&S ZNA 与最高 170 GHz 的频率扩展模块，展示 D 频段晶圆上量测中确保精度、稳定性与再现性的最佳实务，并说明量测环境中的关键判断点。 最后一场讲座将探讨最高 67 GHz RF 电路的杂讯验证。随着低杂讯放大器（LNA）性能要求提高，精准且可靠的杂讯量测变得不可或缺，而 LEO 卫星通信、遥测、量子运算等新兴应用正加速这项需求。由于 LNA 通常位于接收器第一级，其杂讯特性会大幅影响整体系统的杂讯指数与灵敏度。演讲将说明杂讯量测基本原理，以及使用冷源法萃取杂讯参数的方式，量测将采用具备杂讯指数量测功能的最新 R&S ZNA。 本次会议免费参加，但需事先注册。详细议程、讲者信息与注册页面请参考罗德史瓦兹官方网站。