熊本大学与 JASRI 等团队开发出 DPDM 技术并集成至 SPring-8 的 μSX-ARPES 系统。该技术利用深度学习在 30 秒内去除数据格点杂讯，使特定物质的测量时间从 2700 秒大幅缩短至 70 秒，缩减比例达 90% 以上。此举克服了软 X 线分光耗时的技术瓶颈，为超高分辨率的三维电子结构观测开辟新途径。