产业技术综合研究所・计量标准综合中心（NMIJ）举办超过 20 年的「NMIJ 成果发表会」，自本年度起更名为「计量标准综合中心・开放日」，并已于 2026 年 1 月 29 日举行。本活动旨在向社会广泛发布 NMIJ 一年来的研究成果，同时分享有助于未来与产业界及研究机构合作的计量技术。除了传统的专题演讲外，亦同步举办实验室参观与卫星活动，作为让大众能更亲近计量标准与计量技术的机会。 本网络研讨会针对当天无法亲临现场的各位，以系列 3 的形式，将 NMIJ 致力于实现纳米尺度世界可视化的最新计量技术，分为 5 个主题进行重播发布。 内容涵盖半导体组件热管理不可或缺的薄膜垂直与水平方向热扩散率测定技术、为了精确掌握样品信息的多角度 SEM 观察技术、品质管理与产线管理所要求的粒子径即时（on-the-fly）计量技术、对应高速且多模态的放射光 X 光操作数（operando）多尺度分析技术，以及能从原子级晶格缺陷进行非破坏性检测的阳电子空孔计量技术等，介绍产业界所需的最新计量技术趋势。 对于希望评估半导体组件等薄膜材料者、想了解 SEM 观察近期趋势与注意事项者、想将各种粒子计量可视化者、对电池材料或纳米材料等评估感兴趣者，以及为了提升材料功能性或抑制劣化而需要进行空隙评估者，本内容将成为解决贵公司课题或创造新商机的灵感来源。诚挚期待各位的参与。 ＜推荐给以下人士＞ ・希望进行薄膜热物性评估或半导体组件热设计者 ・希望提升 SEM 取得条件与解析方法水准者 ・对即时、生产线等实用粒子计量感兴趣者 ・希望通过放射光 X 光进行高效且有效材料评估者 ・希望评估材料中次纳米至纳米尺度空孔者 报名与详情请点此 举办概要 日期与时间： 2026 年 4 月 13 日（星期一）10 时 00 分～11 时 30 分 2026 年 4 月 16 日（星期四）15 时 00 分～16 时 30 分 ※两日播放内容相同。 ※结束时间可能会有前后变动。 参加费用： 免费 收看方式： 采在线直播。可通过浏览器收看。 ＜议程＞ TOPIC 1：利用时间领域热反射法开发薄膜垂直与水平方向热扩散率测定技术 TOPIC 2：SEM/FIB-SEM 可见之物 ― 多角度材料评估与计量 TOPIC 3：可视化之后 ― 支持品质管理与产线管理的粒度精密化技术与即时计量 TOPIC 4：X 光多尺度结构动力学观察技术的开发 TOPIC 5：阳电子空孔计量的应用展开 ＜咨询事务局＞ AIST Solutions 活动营运负责人 E-mail：webmktg-eve-ml@aist-solutions.co.jp AIST Solutions 今后也预计举办多样化主题的网络研讨会。 诚挚期待各位的参与。 EVENTS/WEBINARS https://www.aist-solutions.co.jp/events_webinars/