由产业技术综合研究所・计量标准综合中心（NMIJ）举办了20多年的「NMIJ成果发表会」，从今年度起更名为「计量标准综合中心・开放日」，并于2026年1月29日举办。本次活动的目的是将NMIJ一年来的研究成果广泛地向社会发布，同时分享能促进未来与产业界及研究机构合作的测量技术。除了传统的主题演讲外，还同时举办了实验室参观和卫星活动，为大家提供了一个能更亲近计量标准与测量技术的机会。 在本次在线研讨会中，作为系列3，我们将针对当天无法亲临现场的观众，将NMIJ致力于将纳米尺度世界可视化的最新测量技术，分为5个主题进行重播。 我们将介绍产业界所需的最新测量技术趋势，包括：半导体组件热管理不可或缺的薄膜面外与面内方向热扩散率测量技术、为准确捕捉样品信息的多角度SEM观察技术、品管与产线管理所需的粒径动态测量技术、利用高速且支持多模态的同步辐射X光进行原位（operando）多尺度分析技术，以及能从原子等级晶格缺陷进行非破坏性侦测的正电子空位测量技术等。 对于想要评估半导体组件等薄膜材料的人、想了解SEM观察的最新趋势及注意事项的人、想要将各种粒子测量可视化的人、对电池材料或纳米材料评估感兴趣的人，以及为了提升材料功能性或抑制劣化而需要进行孔隙评估的人来说，这些内容将为解决公司问题或创造新业务提供灵感。我们衷心期待您的参与。 ＜推荐给这样的人＞ ・想要评估薄膜热物性或进行半导体组件热设计的人 ・想要提升关于SEM截取条件与解读方法水准的人 ・对即时监控、生产线等实用粒子测量感兴趣的人 ・想要利用同步辐射X光高效且有效地进行材料评估的人 ・想要评估材料中次纳米至纳米尺度空位的人 [点此报名及了解详情] 活动摘要 日期与时间： 2026年4月13日(星期一) 10:00～11:30 2026年4月16日(星期四) 15:00～16:30 ※两天的播出内容相同。 ※结束时间可能会有些许变动。 参加费用：免费 观看方式：将于在线播出。可通过浏览器观看。 ＜议程＞ TOPIC 1： 关键字：薄膜热物性,面外・面内方向热扩散率,SEM影像解读,低加速电压观察,粒径测量,动态测量,原位（operando）观察,高速多模态分析,正电子寿命测量法,正电子微束