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深層事前分布に基づくグリッド除去技術による 軟X線角度分解光電子分光の抜本的高効率化

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公益財団法人高輝度光科学研究センター(JASRI)などが、軟X線角度分解光電子分光(SX-ARPES)測定の大幅な効率化を達成。独自開発の「深層事前分布に基づくグリッド除去法(DPDM)」を導入し、測定時間を90%以上短縮。これにより、これまで困難だった超高分解能測定が実用的な時間で可能となり、次世代放射光光源の発展に貢献する。

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