深層事前分布に基づくグリッド除去技術による 軟X線角度分解光電子分光の抜本的高効率化

AI サマリー（NQ 加工済み）

熊本大學與高輝度光科學研究中心開發出「深層事前分布基底格點去除法」（DPDM），顯著提升軟X線角度分解光電子能譜儀（μSX-ARPES）效率，縮短測量時間達90%以上。